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Denominación del Curso: ESPECTROSCOPIA FOTOELETRONICA DE RAYOS X (XPS) APLICADO A NUEVOS MATERIALES Y CATALSIS

Categorización: Perfeccionamiento

Fecha de Inicio: 06-11-2017

Responsable:

Dr. Enrique RODRIGUEZ CASTELLON

Coordinador:

Dr. Marcelo Sandro NAZZARRO

Descripción:

CARACTERÍSTICAS DEL CURSO

DESTINATARIOS Y REQUISITOS DE INSCRIPCIÓN:Egresados universitarios preferentemente de las carreras de Química, Física, e Ingenierías vinculadas con nuevos materiales y/o catálisis y que necesiten esta técnica para llevar adelante su trabajo de investigación.

 CUPO: 20 personas

PROCESO DE ADMISIÓN: El cuerpo docente seleccionará a los alumnos para cubrir el cupo especificado.

CRONOGRAMA DE ACTIVIDADES:

Las actividades previstas en el programa desde el tema 1 al 14 se desarrollarán según el siguiente cronograma: 

 

 

Lunes

Martes

Miércoles

Jueves

Viernes

Mañana

1 - 4

 8 - 9

11 - 12

13 - 14

13 - 14

Tarde

5 - 7

10 - 11

11 - 12

13 - 14

13 - 14

LUGAR DE DICTADO: Lab. 5,  Segundo Bloque y Laboratorio de Fisicoquímica de Superficies (Departamento de Física - INFAP)

FECHA PREVISTA PARA ELEVAR LA NÓMINA DE ALUMNOS APROBADOS: Diciembre de 2017

ARANCEL GENERAL: el curso es gratuito

OTRAS BECAS: El SNRX nos otorgó un subsisdio (Proyecto RXC22) que nos permitirá otorgar 15 becas para cubrir gastos de pasajes y viáticos para alumnos que provengan de otras provincias.

 OBJETIVOS:

Introducir al alumno a los conocimientos mínimos necesarios para poner a su servicio la técnica de caracterización Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) mediante clases teóricas, y experiencias prácticas a partir de sus propias muestras de estudio o muestras brindadas por sus profesores. Asimismo se pretende que los alumnos, al finalizar el curso, puedan interpretar y analizar los resultados provistos por esta técnica.

Informes: nazzarro@gmail.com

Resolución de Protocolización: